X- IŞINI DİFRAKTOMETRESİ (XRD)

Marka: Panalytical

Model: Empyrean

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristal faz için bu kırınım desenleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar.

X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar.

.X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.

 1200 oC’ye kadar çıkabilen yüksek sıcaklık fırını sayesinde atmosfer, vakum ve inert gaz ortamında kristal yapıdaki faz değişimlerini görmek mümkündür.

XRD ile Yapılabilecek Analizler;

• Toz, katı ve ince film şeklindeki örneklerde fazlar,
• Fazların miktarı,
• Kristal boyutu,
• Latis parametreleri,
• Yapıdaki değişimler,
• Kristal yönlenmesi Atom pozisyonları hakkında bilgi verir.
  

Birim Sorumluları:

          Öğr. Gör. İhsan AKŞİT Tel: 132 00- 18 / 0 352 437 58 19 -18

          Öğr. Gör. Altınay BOYRAZ Tel: 132 00- 13 / 0 352 437 58 19 -13

          Öğr. Gör. Kamil GÜRMEN Tel: 132 00- 16 / 0 352 437 58 19 -16