X-Işını Floresan Spektrometresi (XRF)
CİHAZLAR
- Taramalı Elektron Mikroskobu (FESEM)
- X-Işını Difraktometresi (XRD)
- X-Işını Floresan Spektrometresi (XRF)
- Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
- Termogravimetrik ve Diferansiyel Termal Analiz Cihazı (TG/DTA)
- Dinamik Mekanik Analiz Cihazı (DMA)
- Endüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektrometresi (ICP/MS)
- Gaz Kromotografisi Kütle Spektrometresi (GS-MS)
- Yüksek Performanslı Sıvı Kromotografisi (HPLC)
- Nükleer Manyetik Rezonans Spektrometresi (Sıvı NMR)
- FT-IR Spektrometresi ve IR Mikroskop (FT-IR)
- Yüzey Analiz ve Porozite Cihazı (BET)
- Yoğunluk Ölçüm Cihazı (Gaz Piknometresi)
- Sıvı Azot Üretim Sistemi
- Çekme Basma Test Cihazı
- Mikro ve Makro Sertlik Analiz Cihazları
- SHORE A ve SHORE D Sertlik Ölçümü
- Hava Geçirgenlik Test Cihazı
- Isıl Parametreler Ölçüm Test Cihazı
- Numune Hazırlık Cihazları
Bor (B) dan Uranyum (U) a kadar olan tüm elementleri, sub. ppm seviyesinden %100 seviyesine konsantrasyon aralığında * Katı (mineral, metal, polimer), * Sıvı (su, yağ, petrol ürünleri), * İnce film ve preslenmiş toz gibi her formdaki numunede standart numune setine ihtiyaç duymadan yarı kantitatif elementer analiz yapılabilmektedir. Wroxi standart seti ile kil , seramik ve çimento gruplarında kantitatif analiz
